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HS-/KN-Geltungsbereichs-Bibliothek
Code-Referenzoptische, fotografische oder kinematografische instrumente, apparate und geräte; mess-, prüf- oder präzisionsinstrumente, -apparate und -geräte; medizinische und chirurgische instrumente, apparate und geräte; teile und zubehör für diese instrumente, apparate und geräte

Optical instruments, appliances and machines for measuring or checking, not elsewhere specified in chapter 90

Quellendatierte Referenz für den HS-/KN-Code 903140: EUDR-Geltungsbereichsgrundlage, KN-Hierarchie, Auswirkungen auf die Nachweise und verwandte indexierte Zeilen.

ReferenztypHS-/KN-Geltungsbereichseintrag
Geltungsbereichs-EntscheidungOut of scope
Bedeutung für ImporteureNur Referenzhinweis
KN-Jahr2026
Referenzantwort

HS-/KN-Code 903140 ist für die EUDR-Vorbereitung außerhalb des Geltungsbereichs.

Optical instruments, appliances and machines for measuring or checking, not elsewhere specified in chapter 90 Die indexierte Scope-Engine liefert für diesen Code das Ergebnis Out of scope. No Annex I scope match was found for this indexed CN code.

Geltungsbereichsgrundlage

Warum diese Referenzseite diese Antwort gibt.

Code-Beschreibung
Optical instruments, appliances and machines for measuring or checking, not elsewhere specified in chapter 90
Anhang-I-Grundlage
Kein direkter Anhang-I-Eintrag
Quellengrundlage
Regulation (EU) 2023/1115 Annex I and CN 2026 index
KN-Hierarchie

Übergeordnete, untergeordnete und benachbarte Zeilen.

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90optische, fotografische oder kinematografische instrumente, apparate und geräte; mess-, prüf- oder präzisionsinstrumente, -apparate und -geräte; medizinische und chirurgische instrumente, apparate und geräte; teile und zubehör für diese instrumente, apparate und geräteout9031measuring or checking instruments, appliances and machines not elsewhere specified in chapter 90; profile projectorsout90314000optical instruments, appliances and machines for measuring or checking, not elsewhere specified in chapter 90out90314010optical instruments and appliances for automatically inspecting patterns on masks or reticles for semiconductor devicesout90314020optical instruments and appliances for inspecting photomasks for semiconductor devicesout90314030optical instruments and appliances for measuring surface particulate contamination on semiconductor wafersout90314090optical instruments and appliances for measuring or checking, not specified or included elsewhere in chapter 90out903110machines for balancing mechanical partsout903120test benches for motors, generators, pumps, etc.out903130profile projectorsout903141optical instruments and appliances for inspecting semiconductor wafers or devices or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devicesout903149optical instruments, appliances and machines for measuring or checking, not elsewhere specified or included in chapter 90out903180instruments, appliances and machines for measuring or checking, not elsewhere specified in chapter 90 (excl. optical)out
Nachweismuster

Was das für die Vorbereitung bedeutet.

Diese Zeile ist im aktuellen Geltungsbereichs-Ergebnis kein direkter Auslöser für die Nachweiserhebung.

Quellen-Metadaten
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