Parts and accessories for optical instruments and appliances for inspecting semiconductor wafers or devices or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices or for measuring surface particulate contamination on semiconductor wafers, n.e.s.

HS-/KN-Code 90319020 ist für die EUDR-Vorbereitung außerhalb des Geltungsbereichs.

Parts and accessories for optical instruments and appliances for inspecting semiconductor wafers or devices or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices or for measuring surface particulate contamination on semiconductor wafers, n.e.s. Die indexierte Scope-Engine liefert für diesen Code das Ergebnis Out of scope. No Annex I scope match was found for this indexed CN code.

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Code-Beschreibung

Parts and accessories for optical instruments and appliances for inspecting semiconductor wafers or devices or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices or for measuring surface particulate contamination on semiconductor wafers, n.e.s.

Anhang-I-Grundlage

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Quellengrundlage

Regulation (EU) 2023/1115 Annex I and CN 2026 index

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