Parts and accessories for optical instruments and appliances for inspecting semiconductor wafers or devices or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices or for measuring surface particulate contamination on semiconductor wafers, n.e.s.

HS/CN-koodi 90319020 on soveltamisalan ulkopuolella EUDR-valmistelun kannalta.

Parts and accessories for optical instruments and appliances for inspecting semiconductor wafers or devices or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices or for measuring surface particulate contamination on semiconductor wafers, n.e.s. Indeksoitu soveltamisalamoottori palauttaa arvon Out of scope tälle koodille. No Annex I scope match was found for this indexed CN code.

Miksi tämä hakemistosivu antaa tämän vastauksen.

Koodin kuvaus

Parts and accessories for optical instruments and appliances for inspecting semiconductor wafers or devices or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices or for measuring surface particulate contamination on semiconductor wafers, n.e.s.

Liite I -peruste

Ei suoraa liite I -merkintää

Lähdeperuste

Regulation (EU) 2023/1115 Annex I and CN 2026 index

Yläkoodi, alakoodit ja lähirivit.

Kirjastonäkymä on tarkoitettu viitenavigointiin. Käytä tarkistinta, kun haluat suorittaa toisen koodin toimintona.

Mitä tämä tarkoittaa valmistelun kannalta.

Tämä rivi ei ole suora näytönkeruun laukaisin nykyisessä soveltamisalatuloksessa.