Il codice SA/NC 90319020 risulta fuori ambito per la preparazione EUDR.
Parts and accessories for optical instruments and appliances for inspecting semiconductor wafers or devices or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices or for measuring surface particulate contamination on semiconductor wafers, n.e.s. Il motore di ambito indicizzato restituisce Out of scope per questo codice. No Annex I scope match was found for this indexed CN code.
Perché questa pagina di riferimento dà quella risposta.
- Descrizione del codice
- Parts and accessories for optical instruments and appliances for inspecting semiconductor wafers or devices or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices or for measuring surface particulate contamination on semiconductor wafers, n.e.s.
- Base nell'allegato I
- Nessuna voce diretta nell'allegato I
- Base della fonte
- Regulation (EU) 2023/1115 Annex I and CN 2026 index
Righe superiori, inferiori e vicine.
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Che cosa significa per la preparazione.
Questa riga non attiva direttamente la raccolta di prove nel risultato di ambito attuale.