Parts and accessories for optical instruments and appliances for inspecting semiconductor wafers or devices or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices or for measuring surface particulate contamination on semiconductor wafers, n.e.s.

HS/CN kodas 90319020 EUDR parengimui yra nepatenka į taikymo sritį.

Parts and accessories for optical instruments and appliances for inspecting semiconductor wafers or devices or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices or for measuring surface particulate contamination on semiconductor wafers, n.e.s. Indeksuotas taikymo srities variklis šiam kodui grąžina Out of scope. No Annex I scope match was found for this indexed CN code.

Kodėl šis informacinis puslapis pateikia tokį atsakymą.

Kodo aprašymas

Parts and accessories for optical instruments and appliances for inspecting semiconductor wafers or devices or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices or for measuring surface particulate contamination on semiconductor wafers, n.e.s.

I priedo pagrindas

Nėra tiesioginio I priedo įrašo

Šaltinio pagrindas

Regulation (EU) 2023/1115 Annex I and CN 2026 index

Aukštesnio, žemesnio lygio ir gretimos eilutės.

Žinyno rodinys skirtas informacinei navigacijai. Norėdami patikrinti kitą kodą kaip veiksmą, naudokite tikrintuvą.

Ką tai reiškia parengimui.

Ši eilutė dabartiniame taikymo srities rezultate tiesiogiai nesukelia įrodymų rinkimo.