Parts and accessories for optical instruments and appliances for inspecting semiconductor wafers or devices or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices or for measuring surface particulate contamination on semiconductor wafers, n.e.s.

GS/GN-code 90319020 is buiten het toepassingsgebied voor EUDR-voorbereiding.

Parts and accessories for optical instruments and appliances for inspecting semiconductor wafers or devices or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices or for measuring surface particulate contamination on semiconductor wafers, n.e.s. De geïndexeerde scope-engine geeft Out of scope terug voor deze code. No Annex I scope match was found for this indexed CN code.

Waarom deze referentiepagina dat antwoord geeft.

Codeomschrijving

Parts and accessories for optical instruments and appliances for inspecting semiconductor wafers or devices or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices or for measuring surface particulate contamination on semiconductor wafers, n.e.s.

Grondslag in bijlage I

Geen directe vermelding in bijlage I

Brongrondslag

Regulation (EU) 2023/1115 Annex I and CN 2026 index

Bovenliggende, onderliggende en nabijgelegen rijen.

De bibliotheekweergave dient voor referentienavigatie. Gebruik de checker wanneer u een andere code als actie wilt uitvoeren.

Wat dit betekent voor de voorbereiding.

Deze rij is in het huidige scoperesultaat geen directe trigger voor bewijsverzameling.