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Biblioteca de âmbito SH/NC
Referência de códigoreatores nucleares, caldeiras, máquinas, aparelhos e instrumentos mecânicos, e suas partes

Parts and accessories for machine tools for working any material by removal of material operated by laser or other light or photon beam processes of a kind used in the manufacture of semiconductor wafers or devices, for apparatus for dry-etching patterns on semiconductor materials, for focused ion beam milling machines for producing or repairing masks and reticles for patterns on semiconductor devices and for machine tools for stripping or cleaning semiconductor wafers, n.e.s.

Referência com data de fonte para o código SH/NC 84669315, a sua base de âmbito EUDR, a hierarquia NC, as implicações em matéria de provas e as linhas indexadas relacionadas.

Tipo de referênciaRegisto de âmbito SH/NC
Decisão de âmbitoOut of scope
Implicação para o importadorApenas nota de referência
Ano da NC2026
Resposta de referência

Para a preparação EUDR, o código SH/NC 84669315 está classificado como fora do âmbito.

Parts and accessories for machine tools for working any material by removal of material operated by laser or other light or photon beam processes of a kind used in the manufacture of semiconductor wafers or devices, for apparatus for dry-etching patterns on semiconductor materials, for focused ion beam milling machines for producing or repairing masks and reticles for patterns on semiconductor devices and for machine tools for stripping or cleaning semiconductor wafers, n.e.s. O motor de âmbito indexado devolve Out of scope para este código. No Annex I scope match was found for this indexed CN code.

Base de âmbito

Porque é que esta página de referência dá essa resposta.

Descrição do código
Parts and accessories for machine tools for working any material by removal of material operated by laser or other light or photon beam processes of a kind used in the manufacture of semiconductor wafers or devices, for apparatus for dry-etching patterns on semiconductor materials, for focused ion beam milling machines for producing or repairing masks and reticles for patterns on semiconductor devices and for machine tools for stripping or cleaning semiconductor wafers, n.e.s.
Base no anexo I
Sem entrada direta no anexo I
Base da fonte
Regulation (EU) 2023/1115 Annex I and CN 2026 index
Hierarquia NC

Linhas ascendentes, descendentes e próximas.

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Padrão de provas

O que isto significa para a preparação.

Esta linha não desencadeia diretamente a recolha de provas no resultado de âmbito atual.

Metadados das fontes
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84669315 — referência EUDR de âmbito SH/NC | EUDR Tools