Parts and accessories for optical instruments and appliances for inspecting semiconductor wafers or devices or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices or for measuring surface particulate contamination on semiconductor wafers, n.e.s.

Para a preparação EUDR, o código SH/NC 90319020 está classificado como fora do âmbito.

Parts and accessories for optical instruments and appliances for inspecting semiconductor wafers or devices or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices or for measuring surface particulate contamination on semiconductor wafers, n.e.s. O motor de âmbito indexado devolve Out of scope para este código. No Annex I scope match was found for this indexed CN code.

Porque é que esta página de referência dá essa resposta.

Descrição do código

Parts and accessories for optical instruments and appliances for inspecting semiconductor wafers or devices or for inspecting photomasks or reticles used in manufacturing semiconductor devices or for measuring surface particulate contamination on semiconductor wafers, n.e.s.

Base no anexo I

Sem entrada direta no anexo I

Base da fonte

Regulation (EU) 2023/1115 Annex I and CN 2026 index

Linhas ascendentes, descendentes e próximas.

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O que isto significa para a preparação.

Esta linha não desencadeia diretamente a recolha de provas no resultado de âmbito atual.